FLIR A8580 SLS长波红外热像仪为工业、军事和制造研发应用提供所需的清晰成像、精确温度测量和简化分析特性。得益于其搭载的130万像素的应变层超晶格(SLS)探测器和手动调焦和遥控调焦镜头套件,用户能提高目标的测量像素数。利用千兆以太网或CoaXPress的简单单芯电缆连接能实现完全的热像仪控制以及在FLIR Research Studio软件中捕获数据,因此用户能够比以往更快地分析和了解数据。
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功能丰富且简单易用
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具有高级特性以实现更大灵活性
具有远程触发、同步能力,能兼容各种手动调焦和遥控调焦镜头,包括显微镜镜头
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出色的分辨率和测量精度
高清分辨率,精度达±2℃,内置滤片轮,可快速切换至高温范围,有助于确保您收集精确、有意义的温度数据
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简化分析和分享
FLIR Research Studio的简单“连接-查看-记录-分析”工作流有助于您快速收集和分析数据,以及与您的团队轻松协作
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技术参数
- 分辨率
- 1280 × 1024
- 探测器像素间距
- 12µm
- 波长范围
- 7.5µm(下部),11.5–12.5µm(上部)
- 探测器类型
- 应变层超晶格(SLS)
- 热像仪光圈数
- f/2.5
- 动态范围
- 14位
- 热灵敏度(NETD)
- ≤45 mK(标准值为≤40 mK)
- 帧频[全窗口]
- 可编程;0.0015 Hz至45 Hz(GigE),60 Hz(CXP)
- 标准测温范围
- -20°C至650°C
- 标准温度范围 [带带宽匹配光学元件]
- -20°C 至 350°C
- 可选测温范围
- 250℃至2000℃(ND1),500℃至3000℃(ND2)
- 滤波
- 内置四插槽电动滤片轮;工厂预装滤片
- 调焦
- 电动(兼容带手动镜头)
成像与光学
- AGC
- 手动、线性、平台直方图均衡、DDE
- 波长范围
- 7.5µm(下部),11.5–12.5µm(上部)
- 调焦
- 电动(兼容带手动镜头)
- 调色板
- 8位可选择
- 动态范围
- 14位
- 读出
- 快照
- 读出模式
- 异步积分同时读出 异步积分后读出
- 分辨率
- 1280 × 1024
- 高清视频
- SDI
- 环境漂移补偿
- 有,带出厂校准
- 近焦镜头/显微镜
- 1×(12µm/像素)
- 镜头接口
- FLIR FPO-M(4扣环卡栓,电动)
- 可操作性
- ≥98%(标准值为≥99%)
- 可选镜头
- 手动或电动(7.5–12.5µm):17 mm,25 mm,50 mm,100 mm,200 mm
- 滤波
- 内置四插槽电动滤片轮;工厂预装滤片
- 热灵敏度(NETD)
- ≤45 mK(标准值为≤40 mK)
- 热像仪光圈数
- f/2.5
- 视频模式
- SDI:50/59.9 下720p,25/29.9/ 下1080p
- 数字变焦
- 自动,可变
- 数字数据协议
- 千兆以太网(GigE Vision 2.0),CoaXPress
- 探测器类型
- 应变层超晶格(SLS)
- 探测器像素间距
- 12µm
- 图像时戳
- 支持
- 像素时钟
- 100 MHz
- 帧频[全窗口]
- 可编程;0.0015 Hz至45 Hz(GigE),60 Hz(CXP)
- 子窗口模式
- 灵活窗口,可缩放至32×4(以32列,4行递增)
- 最小积分时间
- 480 ns至全帧
测量与分析
- 标准测温范围
- -20°C至650°C
- 标准温度范围 [带带宽匹配光学元件]
- -20°C 至 350°C
- 精度
- 100℃以下为±2℃(标准值为±1℃),100℃以上为±读数的2%(标准值为±1%)
- 可选测温范围
- 250℃至2000℃(ND1),500℃至3000℃(ND2)
通讯与数据存储
- 命令与控件
- GenICam (GigE, CXP), RS-232
- 同步模式
- 同步输入,同步输出
常规
- 尺寸[长×宽×高](不含镜头)
- 226×117×135 mm
- 重量[不带镜头]
- 3.4 kg
电源
- 电源
- 24 VDC(稳态<50 W)
环境与认证
- 安装
- 2×¼"</special>–</special>20螺纹孔,1×⅜"–16螺纹孔,4×10-24螺纹孔
- 检测区
- 40 g,11 ms 1/2 正弦脉冲/4.3 g RMS 随机振动,均为3轴
出口限制
出口限制
本页所载信息涉及的产品可能受《国际武器贸易条例》(ITAR)(22 C.F.R. 第 120-130 条)或《出口管制条例》(EAR)(15 C.F.R. 第 730-774 条)约束,具体取决于最终产品的规格;司法管辖权和分类将应要求提供。
FLIR A8580 SLS
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