让故障排除轻而易举
满足电子产品测试需求的全套红外热像仪系统
随着人们对电子系统和组件支持全球绿色能源和数字化举措的需求不断增加，对高效设计和验证测试的需求也在增加。
热成像技术对于这一过程至关重要，它可以提供准确的温度信息，以排查潜在的问题，优化热效率，甚至识别伪劣组件。
FLIR A6700 系列红外热像仪配备精致的 15 µm 像素间距探测器，可生成非常清晰的热图像。
在与适当的微距镜头或显微镜头配对后，它们是各种电子设计和测试应用的理想解决方案。
请参考下面的低成本 A6700 MWIR 套装，然后联系专家着手部署。
FLIR A6701 MWIR 套装，带微距镜头和支架
640 × 512 (327,680) 像素 FLIR A6701 结合 MWIR 微距镜头和支架，可以为您提供适合各种电子组件和子组件的灵活系统，同时具备精确测量各个表面安装组件温度所需的小空间分辨率。虽然镜头的焦距可以达到无穷大，但在 110 毫米的最小工作距离下，它可以提供总共 21.2 mm × 16.9 mm 的总视野，每像素空间分辨率为 33 µm。
FLIR A6701 MIWR 套装，带 1× 显微镜头和支架
1× MWIR 显微镜头结合 FLIR A6701 MWIR 热像仪，可以发现集成电路中存在的微小热异常或测量单个组件发出的热量，从而帮助研究人员和工程师提高电气效率。显微镜支架可稳定整个系统，从而以 15 µm/像素的空间分辨率，用清晰的图像覆盖 9.6 mm × 7.68 mm 的目标区域。
利用 FLIR Research Studio 尽可能地分析和共享热数据
两种 A6701 MWIR 套装均包含 FLIR Research Studio 专业版。
这款功能强大的软件可让您为每个感兴趣区域分别设置发射率值，并根据实时和记录的热数据中的已知温度计算组件的发射率值，确保根据准确的温度信息做出决定。
多语言和多平台支持 (Windows、MacOS、Linux) 可改善团队成员之间的协作、提高测试效率，并有助于减少因翻译不佳而产生错误解读的可能性。